Hjem
Nyheter
Oversettelse
Prosjekt
Forum
Hjelp
Brukere
Logg Inn
Bli Medlem
. .
•Profil
kazandibi00
▪▪Alle oversettelser
•Etterspurte oversettelser
•
Favorittoversettelser
•Liste av prosjekter
•Innboks
▪Gratis SprÃ¥k-veksling
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
▪▪Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Alle oversettelser
Søk
Alle oversettelser - kazandibi00
Søk
Kildespråk
Språket det skal oversettes til
Resultater 1 - 2 av ca. 2
1
411
Kildespråk
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Oversettelsen er fullført
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1